在焊接和贴片SD NAND时,中间的接地(GND)焊盘必须正确连接到PCB的地层。该焊盘不仅是电气接地的关键部分,还承担散热和机械固定的作用。以下是具体分析和操作要点:
电气接地:
为芯片提供稳定的参考电位,降低信号噪声(尤其是高速信号线CLK、CMD的干扰)。
散热通路:
通过PCB内层的地平面或散热过孔(Thermal Via)将芯片工作时产生的热量导出,避免过热损坏。
机械固定:
中间的大面积焊盘可增强芯片与PCB的粘附力,防止因振动或温度变化导致脱落。
焊盘设计:
在PCB上设计与SD NAND中间GND焊盘匹配的铜箔区域,并填充接地过孔(推荐直径0.3mm,间距1mm)。
确保该区域与PCB的地平面(GND Plane)直接连接(通过多个过孔)。
示例设计:
SD NAND GND焊盘 → PCB铜箔(铺地) → 多个散热过孔 → 内层地平面
回流焊工艺:
使用锡膏印刷时,确保中间GND焊盘的锡膏量充足(推荐厚度0.1~0.15mm),以填充焊盘与芯片之间的间隙。
回流焊温度曲线需匹配锡膏规格(峰值温度通常为245°C±5°C),避免虚焊或冷焊。
手工焊接(谨慎操作):
使用热风枪时,需均匀加热芯片底部,确保中间焊盘的锡膏充分融化。
禁止直接跳过中间焊盘的焊接(如仅焊接外围引脚),否则会导致接地不良和散热失效。
信号完整性下降:
高速信号(如SDIO CLK)可能因参考地不稳而产生振铃或串扰,导致读写错误。
过热风险:
芯片热量无法通过GND焊盘导出,可能引发高温降频甚至永久损坏。
机械可靠性降低:
芯片仅靠外围引脚固定,易因振动或热胀冷缩脱落。
电气连通性测试:
使用万用表测量中间GND焊盘与PCB地平面的电阻(应接近0Ω)。
热成像检查:
在高负载读写时,用热像仪观察芯片温度分布,确认散热正常(通常≤85°C)。
信号完整性测试:
用示波器检测CLK和CMD信号波形,确保无过冲或抖动异常。
必须接线:SD NAND中间的GND焊盘需通过PCB的接地网络(铜箔+过孔)与地平面可靠连接。
操作规范:
PCB设计:铺铜+散热过孔。
焊接工艺:锡膏量充足,温度曲线匹配。
风险规避:禁止省略中间焊盘连接,否则可能导致信号故障、过热或物理损坏。
若因PCB空间限制无法设计大面积接地,可优先保证至少4个对称分布的接地过孔,并增加外围GND引脚的数量作为补充。