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你这个SDNAND有磨损均衡吗

SD NAND-贴片式TF卡-贴片式SD卡-免费测试2024-06-25450

有的,SDNAND通常是基于标准NAND闪存技术的一种增强版本,针对特定的高可靠性和高耐久性需求进行了优化。关于SDNAND是否具备磨损平衡(wear leveling)和单扇区实际擦写次数,以下是一些一般性的说明:

磨损平衡(Wear Leveling)

磨损平衡是一种常见的技术,用于均匀分布存储器单元的擦写次数,从而延长闪存设备的整体寿命。大多数现代SD卡,包括一些SDNAND,通常都具备以下两种磨损平衡技术:

  1. 动态磨损平衡:在数据写入过程中,SD卡控制器会尽量避免频繁写入同一个物理扇区。

  2. 静态磨损平衡:SD卡控制器会周期性地将不常更改的数据移动到新的物理扇区,以确保所有扇区均匀磨损。

擦写寿命

闪存的擦写寿命通常依赖于制造工艺和具体型号。一般情况下,消费级闪存的擦写寿命为1000至10000次擦写周期,而工业级或高耐久性闪存可能达到10万次甚至更多。

测试步骤

为了测试SD卡在高频率擦写情况下的可靠性,可以对最后一个扇区进行写零、擦除、读取操作,并记录擦写次数,直到出现错误为止。

测试代码(Python示例)

这里是一个完整的测试脚本示例,适用于Linux系统:

import os

# Path to the SD card device (e.g., /dev/sdX for Linux)
sd_card_path = "/dev/sdX"

# Size of a sector (512 bytes for traditional SD cards)
sector_size = 512

# Define the last sector (you need to find the total number of sectors on the SD card)
# You can use `fdisk -l /dev/sdX` to find the total size and calculate the last sector
total_sectors = 1000000  # Replace with actual total sector count
last_sector = total_sectors - 1

# Data to write (512 bytes of zeros)
write_data = b'' * sector_size

# Function to write data to a specific sector
def write_sector(sector_num, data):
    with open(sd_card_path, 'r+b') as f:
        f.seek(sector_num * sector_size)
        f.write(data)

# Function to erase a specific sector (write 0xFF)
def erase_sector(sector_num):
    with open(sd_card_path, 'r+b') as f:
        f.seek(sector_num * sector_size)
        f.write(b'' * sector_size)

# Function to read a specific sector
def read_sector(sector_num):
    with open(sd_card_path, 'rb') as f:
        f.seek(sector_num * sector_size)
        return f.read(sector_size)

# Testing loop
error_occurred = False
write_count = 0

while not error_occurred:
    try:
        write_sector(last_sector, write_data)
        erase_sector(last_sector)
        read_data = read_sector(last_sector)

        if read_data != b'' * sector_size:
            error_occurred = True
            print(f"Error detected after {write_count} write-erase cycles.")
        else:
            write_count += 1
            if write_count % 100 == 0:
                print(f"Completed {write_count} cycles without error.")
    except Exception as e:
        print(f"An error occurred: {e}")
        error_occurred = True

print(f"Total write-erase cycles: {write_count}")

注意事项

  1. 备份数据:确保在测试前备份SD卡上的所有数据,因为测试过程会擦写卡上的数据。

  2. 权限问题:在Linux上执行低级别读写操作需要root权限,运行脚本时可能需要使用sudo

  3. 测试环境:在稳定的环境下进行测试,避免温度和湿度等外界因素干扰测试结果。

  4. 定期检查:定期检查测试设备的运行状态,以确保测试过程没有因意外中断。

通过上述步骤和脚本,可以测试SD卡在高频率擦写情况下的可靠性,并评估其实际寿命。这样可以更好地了解SD卡在您具体应用中的表现。


问题描述:我开发的机器需要用SD卡存储数据和档案,FAT32文件系统,文件分配表需要经常擦写。我担心时间长了前面的这几个扇区达到擦写寿命而损坏。你这个SDNAND有磨损平衡吗?单扇区实际擦写次数是1000还是10万也不知道,我想找个闪迪卡,对最后一个扇区做个测试。看看擦写多少次会出错。

为了测试SD卡的耐久性,尤其是单个扇区的擦写寿命,可以进行一个写零、擦除、读取的循环测试。具体步骤如下:

  1. 选择测试对象:选择一张适合测试的SanDisk SD卡。

  2. 确定测试扇区:通常选择卡的最后一个扇区进行测试,以避免影响正常数据存储。

  3. 编写测试程序:程序需要循环进行写零、擦除、读取操作,并在每次循环中检查是否有错误发生。

  4. 记录擦写次数:每次循环都记录擦写次数,并在发生错误时记录具体次数。

测试步骤

  1. 准备SD卡

    • 使用适当的工具格式化SD卡为FAT32文件系统。

  2. 测试程序设计

    • 使用编程语言(如Python、C++)编写测试脚本。

    • 确保能够访问SD卡的低级读写操作(如通过dd命令或专用库)。

  3. 测试代码示例

import os

# Path to the SD card device (e.g., /dev/sdX for Linux)
sd_card_path = "/dev/sdX"

# Size of a sector (512 bytes for traditional SD cards)
sector_size = 512

# Define the last sector (you need to find the total number of sectors on the SD card)
# You can use `fdisk -l /dev/sdX` to find the total size and calculate the last sector
total_sectors = 1000000  # Replace with actual total sector count
last_sector = total_sectors - 1

# Data to write (512 bytes of zeros)
write_data = b'' * sector_size

# Function to write data to a specific sector
def write_sector(sector_num, data):
    with open(sd_card_path, 'wb') as f:
        f.seek(sector_num * sector_size)
        f.write(data)

# Function to erase a specific sector (write 0xFF)
def erase_sector(sector_num):
    with open(sd_card_path, 'wb') as f:
        f.seek(sector_num * sector_size)
        f.write(b'' * sector_size)

# Function to read a specific sector
def read_sector(sector_num):
    with open(sd_card_path, 'rb') as f:
        f.seek(sector_num * sector_size)
        return f.read(sector_size)

# Testing loop
error_occurred = False
write_count = 0

while not error_occurred:
    try:
        write_sector(last_sector, write_data)
        erase_sector(last_sector)
        read_data = read_sector(last_sector)

        if read_data != b'' * sector_size:
            error_occurred = True
            print(f"Error detected after {write_count} write-erase cycles.")
        else:
            write_count += 1
            if write_count % 100 == 0:
                print(f"Completed {write_count} cycles without error.")
    except Exception as e:
        print(f"An error occurred: {e}")
        error_occurred = True

print(f"Total write-erase cycles: {write_count}")

注意事项

  1. 数据备份:确保在测试前备份SD卡上的所有数据,因为测试过程会擦写卡上的数据。

  2. 总擦写次数:测试前了解目标SD卡的耐久性规格。一般来说,工业级SD卡的擦写寿命会更高。

  3. 环境因素:在稳定的环境下进行测试,避免温度和湿度等外界因素干扰测试结果。

  4. 定期检查:定期检查测试设备的运行状态,以确保测试过程没有因意外中断。

通过上述步骤,可以测试SD卡在高频率擦写情况下的可靠性,并评估其实际寿命。


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