SD NAND 芯片焊接在 PCB 上不易受潮,而单独存放时易因受潮产生不良,核心原因在于焊接状态与单独存放时的 “防潮条件” 存在本质差异,具体可从以下几个方面分析:
SD NAND 芯片属于半导体器件,其封装(如 QFN、BGA 等)并非完全绝对密封:
在潮湿环境中,这些缝隙会成为湿气侵入的通道。当芯片吸收水分后,若后续经历高温(如焊接、使用时的发热),水分会快速膨胀,可能导致封装开裂、键合线断裂、焊盘氧化等问题(即半导体行业常说的 “爆米花效应”)。
焊接到 PCB 后,芯片的防潮能力会显著提升,核心原因是焊接过程和 PCB 结构形成了多重 “屏障”:
焊接高温去除原有湿气
焊接时(如回流焊),PCB 和芯片会经历 200-300℃的高温,这一过程会将芯片内部已吸收的湿气彻底蒸发,相当于 “重置” 了芯片的湿度状态。
焊料形成物理密封
焊锡(或锡膏)熔化后会填充芯片引脚与 PCB 焊盘之间的缝隙,固化后形成紧密的金属连接。这层焊料不仅是导电通道,更像 “密封胶”,直接阻断了外界湿气通过引脚缝隙侵入芯片内部的路径。
PCB 与周边结构的辅助防护
PCB 表面通常涂覆阻焊层(绿油),可覆盖未焊接的铜箔,减少湿气与金属的接触;
芯片焊接后被固定在 PCB 上,周围可能有其他元器件(如电容、电阻)或结构件遮挡,减少了直接暴露在潮湿空气中的面积;
部分产品会在 PCB 表面涂覆三防漆(防潮、防盐雾、防霉菌),进一步隔绝芯片与外界湿气。
当 SD NAND 芯片单独放置(尤其是未密封存放)时,上述保护机制完全缺失:
无高温去湿过程
芯片在存储过程中持续暴露在潮湿环境中,湿气会通过封装缝隙缓慢渗入内部,且无法被 “蒸发排出”,逐渐累积。
无物理密封屏障
芯片引脚、封装缝隙直接与空气接触,若环境湿度较高(如超过 60% RH),水分会持续通过缝隙进入,甚至在引脚表面凝结,导致引脚氧化生锈(影响后续焊接可靠性)。
存储环境的放大效应
单独存放的芯片若未使用防潮袋、干燥剂密封,或长期处于高湿度环境(如雨季、未通风的仓库),湿气会加速侵入。尤其对于拆封后的芯片,失去原包装的防潮保护后,吸湿速度会显著加快。
SD NAND 芯片的 “防潮能力” 并非由芯片本身决定,而是取决于是否有阻断湿气侵入的物理屏障和去除累积湿气的条件。焊接在 PCB 上时,高温去湿 + 焊料密封 + PCB 辅助防护形成了完整的防潮体系;而单独存放时,缺乏这些保护,湿气便会通过封装缝隙持续侵入,最终导致不良。
因此,半导体芯片的存储通常要求严格控制环境湿度(一般≤50% RH),并使用防潮袋 + 干燥剂密封,正是为了避免单独存放时的吸湿风险。
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