SD NAND 芯片焊接在 PCB 上不易受潮,而单独存放时易因受潮产生不良,核心原因在于焊接状态与单独存放时的 “防潮条件” 存在本质差异,具体可从以下几个方面分析:
SD NAND 芯片属于半导体器件,其封装(如 QFN、BGA 等)并非完全绝对密封:
在潮湿环境中,这些缝隙会成为湿气侵入的通道。当芯片吸收水分后,若后续经历高温(如焊接、使用时的发热),水分会快速膨胀,可能导致封装开裂、键合线断裂、焊盘氧化等问题(即半导体行业常说的 “爆米花效应”)。
焊接到 PCB 后,芯片的防潮能力会显著提升,核心原因是焊接过程和 PCB 结构形成了多重 “屏障”:
当 SD NAND 芯片单独放置(尤其是未密封存放)时,上述保护机制完全缺失:
SD NAND 芯片的 “防潮能力” 并非由芯片本身决定,而是取决于是否有阻断湿气侵入的物理屏障和去除累积湿气的条件。焊接在 PCB 上时,高温去湿 + 焊料密封 + PCB 辅助防护形成了完整的防潮体系;而单独存放时,缺乏这些保护,湿气便会通过封装缝隙持续侵入,最终导致不良。
因此,半导体芯片的存储通常要求严格控制环境湿度(一般≤50% RH),并使用防潮袋 + 干燥剂密封,正是为了避免单独存放时的吸湿风险。
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